一般常见的老化寿命实验方法有BI(Burn-in),EFR(Early Failure Rate),HTOL(High Temperature Operating Life),HTGB(High Temperature Gate Bias),HTRB(High Temperature Reverse Bias),BLT(Bias Life Test)

评估器件在超热和超电压的情况下，一段时间的耐久力。

失效机制：电子迁移，氧化层破裂，相互扩散，不稳定性；

实验规范：JESD22-A108